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Accueil > Équipes scientifiques > Surfaces, Interfaces : Réactivité et Nanostructuration (SIREN) > Suivi de croissance de couches minces par diffraction d’atomes rapides

Suivi de croissance de couches minces par diffraction d’atomes rapides

La découverte d’un tout nouveau régime de diffraction impliquant des atomes rapides - énergies autour du keV et longueurs d’onde de de Broglie de quelques centaines de femtomètres- a permis de porter un nouveau regard sur les processus de décohérence et simultanément de développer une technique originale d’analyse de surface.
Cette technique est maintenant mise à profit pour révéler, en temps réel, la dynamique d’organisation de la matière aux interfaces hybrides.

Couches minces

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