ISMO

Institut des Sciences Moléculaires d'Orsay


Partenaires

CNRS UPS




Rechercher

lundi 6 avril


Mise à jour
lundi 30 mars


Accueil > Production Scientifique > Thèses soutenues > Année 2011 > Soutenance de thèse Pierre Soulisse (20 juillet 2011)

Soutenance de thèse Pierre Soulisse (20 juillet 2011)

ISMO

par Secretariat - 8 juillet 2011 (modifié le 24 juillet 2013)

Développement d’un dispositif expérimental pour la diffraction
d’atomes rapides et étude de surfaces d’isolants ioniques

La diffraction d’atomes rapides est un régime quantique qui apparaît lorsque des atomes possédant une énergie comprise entre quelques centaines d’eV à plusieurs keV et une largeur de cohérence suffisante arrivent en incidence rasante sur la surface d’un cristal. En raison de leur faible énergie d’approche, les atomes incidents ne pénètrent pas dans le cristal. La diffraction d’atomes rapides, aussi désignée par son acronyme GIFAD, est donc une méthode uniquement sensible à la surface qui permet de sonder la dernière couche atomique d’un cristal comme peut le faire la pointe d’un AFM. Ses spécificités en font une technique prometteuse pour suivre les croissances des couches minces par épitaxie et pour l’étude des surfaces cristallines. Les travaux de ma thèse ont porté sur le développement d’un dispositif expérimental spécialement conçu pour l’étude de la diffraction d’atomes rapides et son utilisation pour suivre la croissance de couches minces sur un bâti d’épitaxie. J’ai aussi étudié avec ce nouveau dispositif des surfaces de KBr(001) et de NaCl(001). Ces études ont permis la mise en évidence d’un nouveau régime de diffraction qui semble correspondre à des mouvements longitudinal et normal cohérents ainsi que l’observation et la quantification d’un type de défauts topologiques : la mosaïcité de surface.

Voir la thèse

Affiche P.Soulisse - 136.8 ko