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Department of Physics and Astronom, Tandem Laboratory Uppsala University, Sweden
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- 25 octobre 2010 (modifié le 26 novembre 2010)Dans la première partie de cet exposé, je m’intéresserai à la structure électronique d’agrégats métalliques. Expérimentalement, cette structure peut être examinée par la mesure des niveaux de cœur et des niveaux de valence électronique. La spectroscopie XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) s’avérant être une technique particulièrement adaptée pour ce type d’étude, nous verrons par exemple, quel est l’arrangement des constituants formant ces agrégats.
Dans la seconde partie, je traiterai de la dynamique de dissociation d’agrégats induite par impact d’ions multi-chargés rapides. La technique que nous avons utilisée pour réaliser cette étude, repose sur la mesure en coïncidence du temps de vol des fragments chargés, et des coordonnées du point d’impact des fragments sur un détecteur sensible en position. Nous verrons par exemple, comment se traduit la répartition des charges sur ces agrégats.
Affiche S Legendre - 148.9 kio |
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